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X熒光光譜儀

產品簡介

X熒光光譜儀分析范圍: 1PPM-99.99% 同時分析: 幾十種元素同時分析測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米

產品型號：JC15-EDX6000

更新時間：2025-01-28

廠商性質：生產廠家

訪問量：629

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

土壤植物

植物表型測量儀株高測量儀張力計土壤氧氣植物氣孔計光譜儀莖流儀器蒸騰儀植物營養測定儀環境監測谷物分析分樣器置床儀脫粒種子分析品質測定儀生長錐果實硬度粉質儀器食味儀病蟲害檢測土壤采樣器直鏈淀粉檢測儀數粒儀研磨儀莖流儀莖稈強度測定儀植物蒸騰測定儀植物根系分析儀冠層檢測儀葉面積測量儀果蔬呼吸測定儀光合作用殺蟲燈植物水勢肥料養分分析儀葉綠素

pm2.5環境監測儀器——環境監測分析儀器

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X熒光光譜儀 硅針半導體探測器 X光管探測器

型號： JC15-EDX6000

一、技術指標:

分析范圍: 1PPM-99.99%

同時分析: 幾十種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米

測量對象: 固體、粉未、液體

測量時間: 60-300 秒

測量精度 : 0.05%

分析元素: Na-U

工作溫度: 15-26℃

相對濕度: ≤70%

重量 : 100KG

功耗: 200瓦

二、儀器配置：

多樣自動進樣系統

計算機、噴墨打印機

真空泵（可選）

壓片機（可選）

硅針半導體探測器

放大電路

高低壓電源

X光管

X熒光光譜儀 硅針半導體探測器 X光管探測器

型號： JC15-EDX6000

一、技術指標:

分析范圍: 1PPM-99.99%

同時分析: 幾十種元素同時分析

測量鍍層：鍍層厚度測量精確至0.005微米

測量對象: 固體、粉未、液體

測量時間: 60-300 秒

測量精度 : 0.05%

分析元素: Na-U

工作溫度: 15-26℃

相對濕度: ≤70%

重量 : 100KG

功耗: 200瓦

二、儀器配置：

多樣自動進樣系統

計算機、噴墨打印機

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